本文標(biāo)題:電子顯微鏡觀測(cè)圖與顯微相仿
信息分類:站內(nèi)新聞 新聞來源：未知 發(fā)布時(shí)間：2014-3-29 18:23:39
電子顯微鏡觀測(cè)圖與顯微相仿
電子透鏡成像放大光路與光學(xué)顯微鏡相仿，可以獲得投影改變透鏡系
統(tǒng)，可以直接放大焦點(diǎn)的像。電子衍射像使用像可以分析樣本的晶體
結(jié)構(gòu)。
電子顯微鏡中圖像細(xì)節(jié)的對(duì)比度是由電子束的散射形成的。電子穿過
樣樣本必須非常薄。
電子顯微鏡觀測(cè)圖量、加速電子的電壓和所希望獲得的分辨率決定樣
本的厚度。樣本的厚度不等。原子量越高、電壓越低，樣本就越薄。
樣品較薄部分電子散射少，較多的電子成像，在圖像中顯得較亮。在
圖像中則顯得較暗。
如果樣品太厚或過密，則像的對(duì)比度就因吸收能量而被損傷或破壞。
電鏡的分辨率為放大倍數(shù)為幾萬～幾十萬倍。由于電子被物體吸收，
故穿透力低。
透射式電子顯微鏡鏡筒的頂部是電子槍，電子射出通過第一第二兩個(gè)
聚光鏡使電子束聚焦。電子束通過樣品后由物鏡成像于中間鏡上，再
通過中間鏡和投影鏡逐級(jí)放大，成像于熒光屏或照相干版上。
電流的調(diào)節(jié)放大倍數(shù)可從幾十倍連續(xù)地變化到幾十萬倍；改變焦距可
在同一微小部位上得到電子顯微像和電子衍射圖像。
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本文出自上海永亨光學(xué)儀器有限公司，本文地址：http://www.malz.cn/xinwen/766.html
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