本文標題:顯微檢測晶體表面的突起產生的原因
信息分類:站內新聞 新聞來源：未知 發布時間：2015-10-21 11:08:42
顯微檢測晶體表面的突起產生的原因
通常情況下我們對于晶體物質表面上凹凸不平的一個
比較粗糙的晶體表面進行顯微檢測時，光通過晶體凹
凸不平的表面時產生的折射率不相同。
在這樣的情況下就說明了晶體物質表面上有突起，而
這種晶體物質突起則是一種晶體的折射率的不同，而
不同的折射率則代表頭上不同的折射率。
因此通常我們在使用偏光顯微鏡進行顯微檢測時，對
于晶體物質表面光能在偏振表面上產生晶體突起的原
因，則是由于晶體和空氣中的折射率相差不大的情況
下產生一個比較大的折射。
因此在這種情況下晶體物質表面底面的點就會比原來
晶質表面的位置要高，就時光通過晶體表面時光線就
會產生一個比較大的折射率。
將本頁加入收藏
下一篇：什么是平面和復消色差物鏡顯微鏡觀測效果如何
上一篇：射線檢測時的內容是什么
本文出自上海永亨光學儀器有限公司，本文地址：http://www.malz.cn/xinwen/1897.html
工業顯微鏡測量顯微鏡視頻顯微鏡專業的供應商
合作伙伴：http://www.xianweijing.org/顯微鏡百科
- 沒有資料
